Study of interface properties in LaAlO_1tn3, SrTiO_1tn3 heterostructures [Elektronische Ressource] / vorgelegt von Stefan Patrick Thiel

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Study of Interface Propertiesin LaAlO /SrTiO Heterostructures3 3Dissertationzur Erlangung des Doktorgradesder mathematisch-naturwissenschaftlichen Fakult atder Universit at Augsburgvorgelegt vonStefan Patrick ThielAugsburg, Januar 2009Tag der mundlic hen Prufung: 19.2.2009Erstgutachter: Prof. Dr. Jochen Mannhart (Universit at Augsburg)Zweitgutachter: Prof. Dr. Armin Reller (Universit at Augsburg)Drittgutachter: Prof. Jean-Marc Triscone (Universite de Geneve)Often, it may be said that the interface is the device.H. Kroemer. Review of Modern Physics, 73, 783 { 793, 2001CONTENTSContents1 Introduction 12 Materials 52.1 Perovskites . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 52.2 SrTiO . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 632.3 LaAlO . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 832.4 /SrTiO Interface . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 83 32.5 Summary . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 113 Experimental Methods 123.1 Substrate Preparation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 123.2 Film Deposition by PLD . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 153.3 Film Growth . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 183.4 Growth Monitoring by RHEED . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 193.5 Film Characterization . . . . . . . . . . . . . . .

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Published 01 January 2009
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